Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi lực từ”

Bách khoa toàn thư mở Wikipedia
Nội dung được xóa Nội dung được thêm vào
Dòng 12: Dòng 12:


với <math>M_{z tip}, H_{z sample}</math> lần lượt là thành phần theo trục z của [[độ từ hóa]] của mũi dò, và [[cường độ từ trường]] tại bề mặt mẫu vật.
với <math>M_{z tip}, H_{z sample}</math> lần lượt là thành phần theo trục z của [[độ từ hóa]] của mũi dò, và [[cường độ từ trường]] tại bề mặt mẫu vật.

==Tài liệu tham khảo==
{{reflist}}


==Ưu điểm và hạn chế==
==Ưu điểm và hạn chế==

Phiên bản lúc 15:34, ngày 9 tháng 12 năm 2007

Kính hiển vi lực từ (tiếng Anh: Magnetic Force Microscope, thường viết tắt là MFM) là một loại kính hiển vi thuộc nhóm kính hiển vi quét đầu dò (SPM), được sử dụng để xây dựng hình ảnh sự phân bố của tính chất từ trên bề mặt vật rắn dựa trên việc ghi nhận lực tương tác (lực từ) giữa mũi dò từ tính với bề mặt của mẫu.

Nguyên lý hoạt động

Về mặt nguyên lý, MFM hoạt động tương tự như AFM. Mũi dò quét trên bề mặt mẫu được sử dụng là vật liệu từ tính khi quét trên bề mặt mẫu sẽ có sự tương tác với các thành phần từ tính trên bề mặt, qua đó vẽ bản đồ phân bố các thành phần từ tính bề mặt, mà cụ thể ở đây là cấu trúc đômen của vật rắn.

Lực tương tác từ giữa mũi dò và bề mặt vật rắn được xác định bởi[1]:

hoặc trong chế độ hoạt động tiếp xúc, người ta có thể ghi lại gradient lực từ được xác định bởi:

với lần lượt là thành phần theo trục z của độ từ hóa của mũi dò, và cường độ từ trường tại bề mặt mẫu vật.

Tài liệu tham khảo

Ưu điểm và hạn chế

Xem thêm